HEIDENHAIN Websites

Modulaire hoekmeetsystemen

Modulaire hoekmeetsystemen met optische of magnetische aftasting bieden door hun talrijke combinaties, waaronder een schaalverdeling resp. verdelingstrommel en tastkop, de perfecte oplossing op maat voor al uw toepassingen. Parameters zoals de interface, nauwkeurigheid of diameter kunnen in een modulair systeem afzonderlijk worden gekozen op basis van de vereisten.

Filter
Alle Optische aftasting Absoluut Functional Safety Incrementeel Magnetische aftasting MULTI-DOF
Contactpersoon – Verkoop

Afdeling verkoop

+31 318 58 18 00

info@heidenhain.nl
Ontvang nieuwsbrief

Modulaire hoekmeetsystemen

Video's en animaties
Service en ondersteuning
Trainingen
Downloads
Leveringsprogramma
Brochure - Modulaire hoekmeetsystemen met delingstrommel
Brochure – Modulaire hoekmeetsystemen met gradenboog

Serie ECA 4000

  • Absolute hoekmeetsystemen
  • Optische aftasting
  • Hoge nauwkeurigheid
  • Robuust en hoge montagetoleranties
  • Ook beschikbaar met Functional Safety
  • Systeemnauwkeurigheid: ±1,5" tot ±3"
Meer informatie

Serie ERA 4000

  • Incrementele hoekmeetsystemen
  • Optische aftasting
  • Hoge nauwkeurigheid
  • Optionele sperluchtafdekking
  • Systeemnauwkeurigheid: ±2" tot ±5"
Meer informatie

Serie ECM 2400

  • Absolute hoekmeetsystemen
  • Magnetische aftasting
  • Robuust en ongevoelig voor vuil
  • Ook beschikbaar met Functional Safety
  • Systeemnauwkeurigheid: ±3,5" tot ±8"
Meer informatie

Serie ERM 2000

  • Incrementele hoekmeetsystemen
  • Magnetische aftasting
  • Robuust en ongevoelig voor vuil
  • Eenvoudige montage
  • Systeemnauwkeurigheid: ±2,5" tot ±72"
Meer informatie

Serie ERP 1000

  • Incrementele hoekmeetsystemen
  • Optische aftasting
  • Zeer hoge resolutie en nauwkeurigheid
  • Compact model
  • Systeemnauwkeurigheid: ±0,9" tot ±4"
Meer informatie

ERP 1080 Dplus

  • Incrementele hoekmeetsystemen
  • Optische tasting
  • Zeer hoge systeemnauwkeurigheid van ±0,4"
  • Robuuste hoekmeting onder externe invloeden
  • Eenvoudige montage via centreerkragen
  • Mogelijkheid voor het meten van de positie van de nevenmeetrichtingen X en Y
Meer informatie

Serie ERO 2000

  • Incrementele hoekmeetsystemen
  • Optische aftasting
  • Hoge resolutie en nauwkeurigheid
  • Compact model
  • Systeemnauwkeurigheid: ±8”
Meer informatie

Helaas zijn er voor uw filterselectie op dit moment geen resultaten.

Events
Contact